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公司基本資料信息
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| 對太陽能硅片進(jìn)行檢測
太陽能多晶硅晶片和單晶硅晶片的生產(chǎn)過程涉及到機(jī)械，濕化學(xué)，熱學(xué)和電子物理過程，從硅碇上切割下的晶片，進(jìn)行蝕刻，摻雜。所有這些工藝過程，以及工藝間的晶片搬運，都會引入應(yīng)力，從而導(dǎo)致晶片的缺陷。例如： |
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Op-tection晶片檢測的在線和離線解決方案 晶片檢測系統(tǒng)依據(jù)太陽能光伏工業(yè)需求進(jìn)行設(shè)計，可集成到生產(chǎn)線上 實現(xiàn)在線檢測，也可構(gòu)建獨立離線式檢測系統(tǒng)對一批晶片的缺陷進(jìn)行檢測。
這兩種情況都不需要生產(chǎn)線停頓，都可在生產(chǎn)運 轉(zhuǎn)中實現(xiàn)測試。為了提供精確、穩(wěn)定的檢測結(jié)果，利用高分辨率的行掃描攝像頭，利用增強型近紅外光譜，并配備近紅外光學(xué)優(yōu)化透鏡，利用LED光源（避免鹵素光源照明的缺點），獲取穩(wěn)定、高分辨率圖象，實現(xiàn)精確檢測。
強大功能的缺陷分析處理軟件，包括信息預(yù)處理，濾波算法，以及高效的圖象數(shù)據(jù)分析處理算法分辨出灰度圖象非常近似的晶格和微裂紋。避免良品誤判，也避免缺陷晶片混入到下一步工藝— 電池片的生產(chǎn)中。增加良率，確保有效的質(zhì)量控制，降低了成本，從而實現(xiàn)了生產(chǎn)效率的提高。 用戶界面顯示了實際的檢測狀態(tài)，包括測
試結(jié)果的統(tǒng)計。 圖象和測試參數(shù)都可存儲在PC的數(shù)據(jù)中，通過網(wǎng)絡(luò)可訪問數(shù)據(jù)庫，并可實現(xiàn)進(jìn)一步的檢查和統(tǒng)計分析。
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晶片檢測系統(tǒng)在線檢測方案
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