近日，樂葉光伏常規(guī)單晶組件在隨機抽檢條件下，順利通過TÜV萊茵PID測試，在300小時的嚴苛條件下，全部樣品測試衰減率均低于1%，達到業(yè)界頂尖水平。

TÜV萊茵依據(jù)“2 PfG 2387/04.14”標準，隨機抽檢了樂葉光伏高效單晶組件進行PID測試，在+1000V / 300h / 85°C /相對濕度85%、-1000V / 300h / 85°C / 相對濕度85%測試條件下，結(jié)果顯示所有樣品功率衰減低于1%，并且順利通過濕漏電測試。

業(yè)內(nèi)通用標準是在溫度60°C、相對濕度85%、電壓±1000V的環(huán)境下進行96個小時PID測試，組件功率衰減不超過5%即為合格，衰減在2%以內(nèi)即為優(yōu)秀標準。樂葉光伏組件測試時間超過通用標準3倍以上，測試溫度比通用標準高出25°C，衰減率不到1%，功率穩(wěn)定性表現(xiàn)出眾，證實了在高溫、高濕環(huán)境下優(yōu)異的可靠性和穩(wěn)定性。

PID全稱“Potential Induced Degradation”，即“電勢誘導(dǎo)衰減”。光伏產(chǎn)業(yè)界近年來對這一現(xiàn)象高度的重視，原因是PID現(xiàn)象會導(dǎo)致組件產(chǎn)生嚴重的功率損失，開壓和填充因子顯著下降，組件EL變黑，甚至是完全變黑。NREL對PID現(xiàn)象進行過深入的研究，并且對其形成的機理有過詳細的推斷，PID的產(chǎn)生和組件封裝材料、電池減反射膜的特性以及使用環(huán)境的溫濕度密切相關(guān)。

樂葉光伏堅持采用半導(dǎo)體級品質(zhì)的單晶硅片生產(chǎn)電池和組件，幫助客戶降低電站投資成本、提高發(fā)電收益，與此同時，嚴格選用高標準的背板、EVA、玻璃材料，并通過電池工藝改善控制功率衰減損失，為高效率單晶組件增加高可靠品質(zhì)保障。