臺積電(TSMC)日前響應(yīng)了稍早前分析師指稱該公司28nmCMOS制程存在著良率問題的說法。
　　
　　臺積電歐洲公司總裁MariaMarced重申她與其他臺積電高層之前所強調(diào)的：減少28nm節(jié)點的缺陷密度一直在掌握中，以量產(chǎn)進度來看甚至快于40/45nm制程技術(shù)。
　　
　　Marced承認，每一代制程節(jié)點在推出時都會有些問題，但臺積電的工程師總能迅速迎接挑戰(zhàn)。“所有事情都變得更加困難。我們已經(jīng)在40nm學到很多了。我們的工程團隊也不斷針對各個設(shè)計定案(tape-out)進行努力，減少缺陷密度并提高良率，”她說。“到了20nm節(jié)點，可預見這將更加困難，但我們?nèi)匀豢春梦磥淼募夹g(shù)發(fā)展趨勢。”
　　
　　Marced強調(diào)其樂觀是來自于臺積電目前已經(jīng)有36款I(lǐng)C進入量產(chǎn)，另外還有132個設(shè)計定案在進行中。“28nm的發(fā)展要比之前的40/45nm快上三倍，”她說。
　　
　　2011年第四季，28nm晶圓生產(chǎn)約占臺積電營收的2%，銷售額約7,000萬美元，Marced說。預計該比重在2012年將上升到5%，銷售額則預期提高到1.7億美元。而針對2012年度，臺積電預計28nm晶圓生產(chǎn)占總營收比重將可達10%。
　　
　　一個被分析師指稱遭遇良率問題的制程節(jié)點，能夠在2季之內(nèi)將銷售額從7,000萬美元提高到1.7億美元，成績應(yīng)該“不算太壞”，Marced說。