光伏組件隱裂、熱斑、PID效應是影響晶硅光伏組件性能的三個重要因素，今天帶大家了解一下電池片隱裂的原因、如何識別及預防方法。

一、光伏組件隱裂的形成及分類

隱裂是晶體硅光伏組件的一種較為常見的缺陷，通俗的講，就是一些肉眼不可見的細微破裂（micro-crack）。晶硅組件由于其自身晶體結構的特性，十分容易發(fā)生破裂。在晶體硅組件生產(chǎn)的工藝流程中，許多環(huán)節(jié)都有可能造成電池片隱裂。隱裂產(chǎn)生的根本原因：

外力：電池片在焊接、層壓、裝框或搬運、測試等過程中會受外力作用，當參數(shù)設置不當、設備故障或操作不當時會造成隱裂。

高溫：電池片在低溫下沒有經(jīng)過預熱，然后在短時間內(nèi)突然遇到高溫后出現(xiàn)膨脹會造成隱裂現(xiàn)象，如焊接溫度過高、層壓溫度等參數(shù)設置不合理。

原材料：原材料的缺陷也是導致隱裂的主要因素之一。

根據(jù)電池片隱裂的形狀，大致可分為5個種類：樹狀裂紋、綜合型裂紋、斜裂紋、平行于主柵線、垂直于柵線和貫穿整個電池片的裂紋。

二、“隱裂”對組件性能的影響

晶硅太陽能電池片產(chǎn)生的電流主要靠表面相互垂直的主柵線和細柵線收集和導出。因此，當隱裂（多為平行于主柵線的隱裂）導致細柵線斷裂時，電流將無法被有效輸送至主柵線，從而導致電池片部分乃至整片失效，還可能造成碎片、熱斑等，同時引起組件的功率衰減。

三、識別“隱裂”的方法

EL（Electroluminescence，電致發(fā)光）是一種太陽能電池或組件的內(nèi)部缺陷檢測設備，是簡單有效的檢測隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理，通過高分辨率的紅外相機拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷。具有靈敏度高、檢測速度快、結果直觀形象等優(yōu)點。下圖即是EL的檢測結果，清晰的顯示了各種缺陷和隱裂。

四、形成“隱裂”的原因

引發(fā)組件隱裂的因素很多，隱裂種類也很多，但不是所有的隱裂都會對電池片有影響，更不用談“隱”色變，只要科學的預防就能適當避免組件產(chǎn)生隱裂。在生產(chǎn)過程中，應避免電池片受到不當?shù)耐饬槿?，也注意儲存環(huán)境溫度變化范圍。在焊接過程中電池片要提前保溫(手焊)烙鐵溫度要符合要求。在組件生產(chǎn)、運輸、安裝和維護過程中，考慮到晶硅組件的易裂特征，需要在安裝電站的各個過程注意并改進作業(yè)流程，盡量減少組件隱裂的產(chǎn)生。

五、預防光伏組件隱裂的要點

在生產(chǎn)過程中以及后續(xù)的存放、運輸、安裝中避免電池片受到不當?shù)耐饬槿?，也注意儲存環(huán)境溫度變化范圍。