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供應(yīng)產(chǎn)品
| 圖片 | 標(biāo) 題 | 更新時(shí)間 |
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太陽(yáng)能硅片WAFER缺陷檢測(cè)機(jī)（在線或離線） 對(duì)太陽(yáng)能硅片進(jìn)行檢測(cè) 太陽(yáng)能多晶硅晶片和單晶硅晶片的生產(chǎn)過(guò)程涉及到機(jī)械，濕化學(xué)，熱學(xué)和電子 |
2011-06-29 |
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太陽(yáng)能電池PECVD減反膜膜厚及折射率測(cè)試儀 （在線和離線） 可對(duì)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)PECVD工藝后所鍍氮化硅膜層的膜層厚度進(jìn)行測(cè)試，可給出膜厚分布的MAP圖。也可對(duì)所鍍膜層的光學(xué)折射率n值進(jìn)行測(cè) |
2011-06-29 |
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太陽(yáng)能電池片硅片缺陷PL光致發(fā)光檢測(cè)儀 近年來(lái)，光伏產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅猛，提高效率和降低成本成為整個(gè)行業(yè)的目標(biāo)。在晶體Si太陽(yáng)電池的薄片化發(fā)展過(guò)程中，出現(xiàn)了許多嚴(yán)重的問(wèn)題，如碎片 |
2011-06-29 |
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EL電致發(fā)光太陽(yáng)能電池片缺陷檢測(cè)機(jī)、測(cè)試儀 當(dāng)給太陽(yáng)能電池施加電壓時(shí)，太陽(yáng)能電池片開(kāi)始發(fā)出低強(qiáng)度的紅外光。通常所稱(chēng)這個(gè)電致發(fā)光的現(xiàn)象取決于太陽(yáng)能電池片的效率。低效率區(qū) |
2011-06-28 |
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