PID電源測試系統(tǒng)

（電勢誘導衰減測試系統(tǒng)）

一：PID描述：

PID效應（potential Induced Degradation）全稱電勢誘導衰減，PID測試標準引自于IEC62804-1：System Voltage durability test for crystalline silicon modules，測試要求是將組件置于一定的溫度、濕度環(huán)境，將組件內(nèi)部導電體與高壓電源的一個級連接在一起，組件外導電體與高壓電源的另一個極連接

二：PID電源技術(shù)規(guī)格：

2.1本SST-PV-PID電源具有8/12路通道輸出，能夠提供多個組件同時測試，電壓可以連續(xù)調(diào)節(jié)，電壓參數(shù)能夠?qū)崟r顯示便于監(jiān)控

2.2系統(tǒng)具備電流顯示功能，且8/12路通道電流分別同時顯示

2.3正負極性能一鍵切換，安全高效

2.4每個輸出或輸入通道端接孔必須便于連線的插拔（便捷，安全）

2.5組件邊框接地，連接器短接后接高壓端，負壓試驗及正壓恢復時只需軟件切換，不需改變連接方式（電源正極和電源負極能夠?qū)崿F(xiàn)無弧化轉(zhuǎn)換）。模擬系統(tǒng)的正極接地或負極接地（能夠?qū)崿F(xiàn)pid測試及pid恢復測試）

2.6電源具有漏電流報警功能，報警可設置范圍；（0~100微安/-100~0微安）

2.7可以設置測試時間，實驗結(jié)束，電源系統(tǒng)自動停止

2.8標配：①PID電源一臺（輸入AC220V，給電源供電 ）②工控計算機一臺（配置簡單中文軟件監(jiān)控，漏電流實時記錄，掃描間隔時間可通過軟件設置，數(shù)據(jù)導出格式：Excel ）③組件邊框連接線（8/12根），組件MC4連接器（12套）

2.9配件：PID測試專用高壓線12套，用戶手冊，合格證

2.10設備尺寸:600*600*1600mm(L*W*H)

2.11控制電腦： DELL 19 寸顯示器+研祥PIC810工業(yè)電腦

三、系統(tǒng)介紹：

軟件控制

u  8/12通道PID測試系統(tǒng)，僅供參考；

u  系統(tǒng)能夠同時顯示每一路的電流和電壓值和曲線；

u  用戶可以根據(jù)實驗需要設定系統(tǒng)的啟動/停止時間；

u  具備與環(huán)境試驗箱通訊接口：當環(huán)境試驗箱發(fā)生故障時，環(huán)境電源會自動接收到環(huán)境試驗箱的故障信息；軟件會強制電源系統(tǒng)輸出為“0”，避免由于雙系統(tǒng)的不協(xié)調(diào)導致測試樣品的損壞和設備的安全性。

四、 測試流程

本系統(tǒng)可以滿足不同技術(shù)路線光伏組件的PID測試，可以同時滿足：IEC62804-1：System Voltage durability test for crystalline silicon modules 標準要求中的PID Stress test method (a)和PID Stress test method (b)

五、安全保護功能

5.1過電流報警：當有一路漏電流超過1mA時，系統(tǒng)軟件會強制電源系統(tǒng)輸出為“0”，保證測試人員生命安全

5.2過壓報警：當有一路電壓超過設定值的10%時，系統(tǒng)軟件會強制電源系統(tǒng)輸出為“0”，保證測試人員生命安全

5.3超溫報警：當系統(tǒng)運行溫度超過60℃是時，系統(tǒng)軟件會強制電源系統(tǒng)輸出為“0”，保證測試人員生命安全

5.4與環(huán)境試驗箱通訊接口：當環(huán)境試驗箱發(fā)生故障時，環(huán)境電源會自動接收到環(huán)境試驗箱的故障信息。軟件會強制電源系統(tǒng)輸出為“0”，避免由于雙系統(tǒng)的不協(xié)調(diào)導致測試樣品的損壞和設備的安全性

六、產(chǎn)品售后支持

6.1設備到貨后我方將派出專職工程師在貴公司按下列計劃進行培訓，保證操作人員達到以下要求：

u  操作人員正確熟練操作本試驗機

u  操作人員掌握本試驗機日常保養(yǎng)維護方法

u  操作人員掌握本試驗機簡單故障排除等技能

6.2保修期：整機一年 ,保修期自驗收合格之日起計，如果非設備故障原因?qū)е买炇諘r間延遲，質(zhì)保期從設備驗收合格之日開始計算

6.3質(zhì)保期以后：及時向用戶提供易損件及配件