產(chǎn)品介紹:
HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍：0.1-1000Ω.cm,，是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測量儀器。

■ 無接觸和無損傷測量

■快速測量，測試掃描速度達(dá)到2000mm/min

■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量

■主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。

■ 性價比高，極大程度地降低了企業(yè)的測試成本。

■溫度：18-26℃
■濕度：10%~80%
■大氣壓：750±30毫米汞柱

■少子壽命測試范圍:0.1μs-20ms

■測試掃描速度:2000mm/min

■測試尺寸:215mm*215mm*500mm

■ 電阻率范圍：>0.1Ω.cm

■ 激光波長：904,測試功率范圍：50-500mw

■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm

■儀器測試精度：±3.5％，信號處理偏差≤2％

■工作頻率：10GHz±0.5

■微波測試單元功率：0.01W±10%

■電源：～220V 50Hz    功耗＜200W

■主機(jī)尺寸：365mm * 645mm *565mm

■主機(jī)重量：30KG

河北，江西，江蘇，浙江，新疆等地拉晶鑄錠客戶。