SEMI中國光伏標(biāo)準(zhǔn)委員會2014年度夏季會議將于2014/6/13（周五）召開，屆時(shí)來自阿特斯陽光、英利、晶澳、天合、漢能、國電、賽維LDK、尚德等光伏企業(yè)的總裁、首席技術(shù)官、首席運(yùn)營官、技術(shù)總監(jiān)等將齊聚保定，共商SEMI國際光伏標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容。SEMI人員在會上將全面介紹北美、歐洲、日本、臺灣的光伏標(biāo)準(zhǔn)委員會的活動(dòng)狀況。回顧3個(gè)在2014年第3輪投票環(huán)節(jié)中的標(biāo)準(zhǔn)，審核收到的各反饋意見，各工作組將匯報(bào)針對各反饋意見是如何對標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容做出相應(yīng)修改。

三個(gè)在2014年第三輪投票環(huán)節(jié)中的標(biāo)準(zhǔn)為：

1. 由LDK牽頭制定的《Doc. 5382A, 新標(biāo)準(zhǔn)：光伏電池用內(nèi)單晶標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范》
2. 由英利牽頭制定的《Doc. 5659, 新標(biāo)準(zhǔn)：基于RGB的晶體硅電池顏色測試方法》
3. 由洛陽中硅牽頭制定的《Doc. 5477B, 新標(biāo)準(zhǔn)：電感耦合等離子體光譜法測量光伏多晶硅用工業(yè)硅粉中B, P, Fe, Al, Ca的含量》

五個(gè)新標(biāo)準(zhǔn)提案申請立項(xiàng)制定：
尚德申請《熱斑失效規(guī)范》、英利申請《用激光掃描共聚焦法測量太陽能電池網(wǎng)格線縱橫比的方法》和《用稱重法測量晶體硅硅片的刻蝕率》、由SIBCO申請的《光伏組件裝配MWT背接觸的實(shí)踐》、由48所申請的《多線鋸拉力的測試方法》并同時(shí)申請成立“多線切割設(shè)備測試方法工作組”。

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會議地點(diǎn)
保定電谷國際酒店 三樓電谷堂
保定市朝陽北大街1888號

參會注意事項(xiàng)：

（1）本標(biāo)準(zhǔn)會議的參會人員必須為SEMI標(biāo)準(zhǔn)會員。
（2）SEMI標(biāo)準(zhǔn)會員注冊網(wǎng)址：http://www.semi.org/en/node/42536 ，SEMI標(biāo)準(zhǔn)會員注冊指南請查閱附件（點(diǎn)擊下載）。

聯(lián)系人：Kris Shen （沈紅）
經(jīng)理, SEMI標(biāo)準(zhǔn)
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