徐偉平 博士 （浙江大學(xué)）

首先介紹了現(xiàn)有鏡面面形主要的檢測(cè)方法：VSHOT、攝影測(cè)量法及條紋反射法。其次，利用三維掃描系統(tǒng)對(duì)碟式二次聚光鏡鏡面進(jìn)行了檢測(cè)，用掃描得到的三維數(shù)據(jù)進(jìn)行光學(xué)模擬，與實(shí)驗(yàn)得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，在考慮各種因素的影響上，基本上取得一致；利用理論模型進(jìn)行相應(yīng)的模擬，并與掃描數(shù)據(jù)和實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)比較，評(píng)價(jià)其聚光性能的高低。通過(guò)掃描數(shù)據(jù)與理論模型幾何結(jié)構(gòu)的聚焦能流密度相對(duì)比的方法，可找到聚光性能偏離理想情況的關(guān)鍵原因，為聚光器的調(diào)節(jié)提供了參考。(供稿：國(guó)家太陽(yáng)能光熱產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟)