「2012 PV Taiwan臺(tái)灣國(guó)際太陽(yáng)光電展覽會(huì)」將于(3)日開(kāi)展，在開(kāi)展前夕，SEMI和工研院共同宣布臺(tái)灣太陽(yáng)光電業(yè)者再度成功提案，通過(guò)「SEMI PV38-0912矽晶太陽(yáng)能電池在運(yùn)輸環(huán)境條件下之振動(dòng)測(cè)試方法」國(guó)際產(chǎn)業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)(見(jiàn)左圖)，以減少太陽(yáng)能電池在運(yùn)輸過(guò)程中，因不當(dāng)?shù)恼駝?dòng)導(dǎo)致發(fā)電效能的下降，以及電池與結(jié)構(gòu)破裂等不必要的損耗，同時(shí)增加整體獲利率。
 

 

此為工研院和旺能(3599)、金頓、杰能、友晁、廣碩、鑫盈等八家臺(tái)灣太陽(yáng)光電業(yè)者，透過(guò)SEMI的國(guó)際平臺(tái)運(yùn)作，在國(guó)際產(chǎn)業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)平臺(tái)上發(fā)聲，針對(duì)太陽(yáng)能電池提出一套在運(yùn)輸環(huán)境條件下振動(dòng)的測(cè)試準(zhǔn)則，于今年9月正式提案，成為第二項(xiàng)在臺(tái)灣提出且通過(guò)的國(guó)際太陽(yáng)能產(chǎn)業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
 

工研院量測(cè)中心副主任莊柏年表示，在太陽(yáng)能晶矽的技術(shù)發(fā)展中，越低的電池?fù)p壞率代表生產(chǎn)良率越高。而溫度、壓力與晶矽細(xì)微龜裂等各種因素可能損害晶圓的完整性，造成矽電池出現(xiàn)破損，進(jìn)而影響太陽(yáng)能模組整體良率。然而，造成電池破損大多是在制造、處理、運(yùn)送和模組制造等過(guò)程中因外力而導(dǎo)致?lián)p壞。

 

因此，在太陽(yáng)能模組制造前，太陽(yáng)能電池于運(yùn)送過(guò)程中因微振動(dòng)而造成的破壞，是太陽(yáng)能電池故障的最主要原因。這些不必要的破裂所造成的耗損影響電池品質(zhì)，最多可造成8%的效能下降。隨著太陽(yáng)能電池興起的新趨勢(shì)，運(yùn)用更薄的矽晶片于制造中，更突顯了此問(wèn)題的重要性。
 

工研院表示，此次通過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)提供一個(gè)統(tǒng)一的測(cè)試方法，評(píng)估在運(yùn)輸過(guò)程中產(chǎn)生的振動(dòng)對(duì)太陽(yáng)能電池所造成的耗損。無(wú)論在不同運(yùn)輸環(huán)境條件下或運(yùn)送產(chǎn)品時(shí)使用何種交通工具，都能透過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法對(duì)太陽(yáng)能電池進(jìn)行裂紋或缺陷的評(píng)估。此外，不同的電池包裝載具方式將會(huì)產(chǎn)生不同的評(píng)估結(jié)果，而這結(jié)果可建議廠商以妥善的包裝降低運(yùn)送過(guò)程中的損耗。因此，擔(dān)心產(chǎn)品在運(yùn)送中會(huì)有所損傷的相關(guān)單位，包括電池制造商、采購(gòu)商或任何其他相關(guān)廠商，都可以依據(jù)共同的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行相關(guān)評(píng)估。