GE近日在光伏電力設(shè)備中使用的電力電子使用壽命的可驗證性方面邁出了重要的一步，同F(xiàn)raunhofer可靠性和微集成研究所(IZM)合作，共同開發(fā)電子元件壽命預測測量系統(tǒng)。此測量系統(tǒng)的首個原型將于2012年9月作為CoMoLeFo項目(光伏電力電子條件監(jiān)控)在柏林展出。

GE與Fraunhofer IZM共同參與由TSB Berlin通過RDF基金贊助的該項目的其他各方包括imc Meßsysteme GmbH和Elbau Elektronik Bauelemente GmbH。

此聯(lián)合CoMoLeFo項目旨在識別和檢測絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)的老化機制，它是現(xiàn)代逆變器的主要組件。其中一個流程間接通過捕捉運行期間IGBT的電子參數(shù)數(shù)據(jù)來判斷芯片溫度，另外一個流程則監(jiān)控老化引起的參數(shù)變化。捕獲的數(shù)據(jù)由遠程診斷系統(tǒng)軟件進行處理，對IGBT的剩余壽命進行預測。

此預測功能對于整個行業(yè)來說非常重要，因為能夠改善光伏發(fā)電設(shè)備的可靠性、降低維護成本并延長使用壽命。

Fraunhofer IZM的CoMoLeFo項目負責人Ing. Andreas Middendorf博士指出：“目前為止我們通過這個項目獲得的成果提高了我們在故障機制方面的知識，在細化模擬模型和設(shè)計新電力電子系統(tǒng)方面均有著重要價值。”