先進(jìn)電氣測試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司（Keithley Instrument），日前宣布對(duì)其屢獲殊榮的4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)進(jìn)行全面的硬件、固件和軟件升級(jí)。吉時(shí)利測試環(huán)境交互式軟件（KETI）V7.2版經(jīng)過升級(jí)囊括九種新的太陽能電池測試庫，擴(kuò)展了系統(tǒng)電容-電壓（C-V）測量功能的頻率范圍，支持該公司最新九槽4200-SCS儀器架構(gòu)。

KTEI V7.2新增測試庫增強(qiáng)了4200-SCS進(jìn)行太陽能電池I-V、C-V和電阻測試的功能，隨著市場對(duì)可替代能源技術(shù)更加關(guān)注、政府支持力度加大的情況下，此類測試功能將變得更加重要。本次軟件升級(jí)支持最新太陽能電池測試技術(shù)DLCP（Drive-Level Capacitance Profiling，激勵(lì)電平電容壓型），而采用原來的測試方案很難精確測試。DLCP能提供薄膜太陽能電池上的缺陷密度信息，2007年11月份推出的4200-CVU型電容-電壓測試卡經(jīng)過改動(dòng)可直接支持這一測試技術(shù)。KTEI V7.2版對(duì)現(xiàn)有4200-SCS用戶免費(fèi)。

為支持DLCP測試，4200-CVU的頻率范圍從10kHz～10MHz擴(kuò)展到1KHz～10MHz。經(jīng)擴(kuò)展的頻率范圍也擴(kuò)大了系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域，支持平板LCD和有機(jī)半導(dǎo)體（例如有機(jī)發(fā)光二極管OLED）測試。

隨著I-V、脈沖和C-V特征分析應(yīng)用的不斷增長，需要更大測試靈活性和更強(qiáng)功能的4200-SCS用戶逐漸發(fā)現(xiàn)主機(jī)有些擁擠不堪。為滿足這一需要，本次V7.2版升級(jí)支持九槽主機(jī)架構(gòu)。以前的4200-SCS有八個(gè)插槽，安裝越來越多的源測量單元（SMU）、脈沖發(fā)生器和示波器卡以及電容-電壓測量卡。現(xiàn)在的4200-SCS系統(tǒng)經(jīng)過升級(jí)可以支持九個(gè)插槽；所有新的主機(jī)都將提供九個(gè)插槽。

為支持V7.2版的升級(jí)，吉時(shí)利推出一款新的高性能三同軸線纜套件，用于連接4200-SCS和探測器，能大大簡化在直流I-V、C-V和脈沖測試配置之間轉(zhuǎn)換的過程。本款新的線纜套件無需用戶重新進(jìn)行布線即能消除由于布線誤差導(dǎo)致的測量誤差。其中包括兩種線纜套件――一種適用于Cascade Microtech探測器，另一種適用于SUSS MicroTec探測器。

不斷增強(qiáng)的系統(tǒng)功能確保產(chǎn)能不斷增長

吉時(shí)利4200-SCS以一套緊密集成的特征分析解決方案取代了多種分離的電氣測試工具，是可靠性實(shí)驗(yàn)室、材料與器件研究實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行半導(dǎo)體技術(shù)研究、工藝研發(fā)和材料研究的理想選擇，能滿足所有需要臺(tái)式直流或脈沖測試儀的實(shí)驗(yàn)室的需要。自推出4200-SCS系統(tǒng)以來，吉時(shí)利不斷增強(qiáng)其硬件和軟件功能。吉時(shí)利對(duì)系統(tǒng)不斷更新的承諾確保用戶能夠獲得高性價(jià)比的升級(jí)途徑，用戶無需因?yàn)樵袃x器過時(shí)而購買新的參數(shù)分析儀。系統(tǒng)通過高性價(jià)比的升級(jí)能滿足業(yè)界不斷增長的測試需求，相比競爭對(duì)手的測試方案，用戶對(duì)4200-SCS的固定資產(chǎn)投資有效期更長。

吉時(shí)利儀器公司作為半導(dǎo)體器件特征分析和參數(shù)測試系統(tǒng)領(lǐng)先供應(yīng)商，為全球各地用戶提供電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）和脈沖I-V測量與分析所需的各種靈活解決方案。產(chǎn)品涵蓋從臺(tái)式儀器到成套系統(tǒng)，應(yīng)用于材料分析、器件特征分析、圓片級(jí)可靠性分析、工藝控制監(jiān)測等領(lǐng)域。吉時(shí)利通過其龐大的現(xiàn)場服務(wù)中心網(wǎng)絡(luò)以及具有半導(dǎo)體專業(yè)技術(shù)知識(shí)的應(yīng)用工程師，為全球半導(dǎo)體用戶提供密切的服務(wù)。